PROGRAMAÇÃO PRELIMINAR

ENQUALAB 2020 - VIRTUAL

30 DE NOV - 02 DE DEZ

30/NOV

SOLENIDADE DE ABERTURA 

09:30 -10:00

Marcos Heleno Guerson de Oliveira Junior - Presidente do INMETRO

Mario Willian Esper - Presidente do Conselho Deliberativo da ABNT

Jean Albert Bodinaud - Presidente do Conselho Deliberativo

Celso Scaranello - Presidente Executivo da Remesp

PAINEL 1: "LEI DE LIBERDADE ECONÔMICA E QUALIDADE REGULATÓRIA" 

10:15 -12:00

Apresentação:

Lenilton Duran Pinto Correa - Diretor de Avaliação da Conformidade – Dconf/Inmetro

Moderador:

Celso Scaranello - Presidente Executivo da Remesp

Debatedores: 

Alexandre Xavier L. Martins - Superintendente - IQA

Israel Guratti - Gerente de Tecnologia e Política Industrial - ABINEE

João Alfredo Saraiva Delgado - Presidente Executivo - IPDMAQ – Instituto de Pesquisa e Desenvolvimento Tecnológico da Indústria de Máquinas e Equipamentos / ABIMAQ

Fábio Jacon - Associação Brasileira de Avaliação da Conformidade - ABRAC

PAINEL 2: O FUTURO DAS AVALIAÇÕES NOS OACs E AS NOVAS TECNOLOGIAS DIGITAIS 

14:00 -15:30

Apresentação:

Renata Martins Horta Borges - Chefe da Divisão de Acreditação de Laboratórios - DICLA/CGCRE

Moderador:

Kleber Albuquerque de  Vasconcelos – Rede Metrológica de Minas Gerais

Debatedores:

Mario Francisco Cia – Abrac - Associação Brasileira de Avaliação da Conformidade

Diego Roberto da Silva - Laboratório Água e Terra

Paula Setton - SETTON

PALESTRAS (TÉCNICA-COMERCIAL) - EXPOSITORES/PATROCINADORES

A IMPORTÂNCIA DA LUZ PARA O DESEMPENHO HUMANO E QUALIDADE DE SUA METROLOGIA 

16:30 - 17:00

Oswaldo Rossi Jr. - Diretor da INTERMETRO

A EXPERIÊNCIA DOS ORGANISMOS DE CERTIFICAÇÃO DE PRODUTOS NOS PROCESSOS DE AVALIAÇÃO REMOTA DE LABORATÓRIOS

17:00 - 17:15

Alexandre XavierABRAC - Associação Brasileira de Avaliação da Conformidade

O RELACIONAMENTO E PARTICIPAÇÃO DA ABRAC EM FÓRUNS INTERNACIONAIS

17:15 - 17:30

Marcos Zevzikovas - ABRAC - Associação Brasileira de Avaliação da Conformidade   

01/DEZ

PAINEL 3: OS PROGRAMAS DE ENSAIOS DE PROFICIÊNCIA, COMO FERRAMENTA DE VALIDAÇÃO DA COMPETÊNCIA TÉCNICA DO LABORATÓRIO 

10:15 -12:00

Apresentação:

Andrea Melo Queiroz - Coordenação Geral de Acreditação - Inmetro

Moderador:

Eduardo Ferreira Garcia - Remesp

Debatedores:

Gilberto Batista de Souza – Consultor independente

Patricia da Silva Trentin – Companhia Ambiental do Estado de São Paulo - Cetesb 

William Escaletti dos Anjos – Depto. de Metrologia Científica e Industrial – IPEM/SP

PAINEL 4: A IMPORTÂNCIA DA METROLOGIA DENTRO DO CONTEXTO DA INDÚSTRIA 4.0 

14:00 -15:30

Apresentação:

Emerson Leme - VP Industrial Products – North America - STARRETT

Moderador: 

André Luiz Meira de Oliveira - Fundação Certi

Debatedores:

Eduardo Prata Costa Fernandes – Presidente-CSQI - Câmara Setorial de Máquinas, Equipamentos e Instrumentos para Controle de Qualidade, Ensaio e Medição / ABIMAQ

Cristiano dos Anjos Gonçalves - Diretor da área de Automação Industrial - ABINEE

Prof. André Roberto de Sousa - Instituto Federal de Santa Catarina – IFSC

PALESTRAS (TÉCNICA-COMERCIAL) - EXPOSITORES/PATROCINADORES

AVALIAÇÃO 3D SEM CONTATO DE SUPERFÍCIE EM PENETRADORES DE DUREZA

16:00-16:30

Tatiana SantanaMAHR DO BRASIL

INSTITUTO SENAI DE INOVAÇÃO EM MANUFATURA AVANÇADA E MICROFABRICAÇÃO 

16:30–17:00    

Cristiano Cardoso ​- Serviço Nacional de Aprendizagem Industrial – SENAI/SP

02/DEZ

PAINEL 5: METROLOGIA DAS RADIAÇÕES IONIZANTES: ENSAIO DE PROFICIÊNCIA NO BRASIL 

10:15 -12:00

Apresentação:

Dra. Karla Cristina de Souza Patrão - Laboratório Nacional de Metrologia das Radiações Ionizantes (LNMRI)

Moderador:

João Carlos Videira José

Debatedores:

M.Sc.  Marina Aparecida Pires - Laboratório de Calibração - METROBRAS

Dr.  Luis Alexandre Gonçalves Magalhães - Laboratório de Ciências Radiológicas-UERJ

Dr. Marco Aurélio de Sousa Lacerda - Laboratório de Calibração de 
Dosímetros, LCD-CDTN-CNEN-MG

Dr. Vinícius Saito Monteiro de Barros - LMRI-DEN/Universidade Federal de Pernambuco-UFPe

Dr. Marcus Navarro - Laboratório de Produtos para a Saúde-LABPROSAUD - IFba

MESA REDONDA: 5 G, IOT, INTELIGÊNCIA ARTIFICIAL E OS DESAFIOS PARA LABORATÓRIOS DE CALIBRAÇÃO 4.0

14:00 -15:30

Apresentação:

André Luiz Meira de Oliveira - Fundação Certi
Rodolfo Saboia Lima de Souza - Diretoria de Metrologia Científica – Inmetro

Osvaldo Lahoz Maia – Gerente de Inovação e de Tecnologia - Senai/SP

Moderadora:

Cristina Akemi Shimoda Uechi - Analista de C&T/MCTIC

PALESTRAS (TÉCNICA-COMERCIAL) - EXPOSITORES/PATROCINADORES

GARANTINDO A INTEGRIDADE DE DADOS EM PESAGEM 

16:30 -17:00

Carlos Augusto Scarton - Sartorius

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